Описание:

Hommel-Etamic Nanoscan 855 — высокоскоростной оптико-механический комбинированный прибор высочайшей точности, предназначенный для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

Очень высокое разрешение 0,6 нанометра в сочетании с большим диапазоном измерения 24 мм позволяет Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIKпозволяет прибору осуществлять синхронное сверхточное измерение характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях. Помимо высокой точности хода, Nanoscan 855 JENOPTIK имеет отличные точностные характеристики параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне. Высокие требования точности соблюдены благодаря специально составленной системе воздушного демпфирования и корпуса, которые сводят к минимуму внешние влияния на процесс измерения.

Возможность работы с ЧПУ позволяет полностью автоматизировать процесс измерения, устанавливая параметры для измерения в зависимости от используемого датчика. Это сводит к минимуму вмешательство оператора и исключает возможность ошибки при эксплуатации, обеспечивая максимальную производительность при высоком контроле качества.

Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIK

• Эргономичный дизайн;
• Система активного подавления вибрации;
• Управление станции с джойстиком;
• Измерение шероховатости и контура за один проход;
• Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время;
• Возможность измерения шероховатости на сферах;
• Сверхнизкие внутренние шумы;
• Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки;
• Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью: окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.

Технические характеристики: