Hommel-Etamic W55 — высокоточный и высокоскоростной профессиональный профилометр для измерения шероховатости, профиля и волнистости для малых и средних деталей. Hommel-Etamic W55 JENOPTIK заключен в прочный закрытый алюминиевый корпус и может применяться как в производственных, так и лабораторных условиях.
Особенности и преимущества профилометра Hommel-Etamic W55 JENOPTIK
Измерительный принцип |
трассирование поверхности |
Класс точности по DIN 4772 |
Класс 1 (3%) |
Измерит.диапазон/разрешение |
± 8 мкм/1 нм; |
Фильтр: длина отсечки шага |
0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 (мм); выбираемая в пределах от -2 до +1 отсечки шага; |
DIN 4768 |
RC, [мм], отсечки шага 0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 |
ISO 11562, Part 1, (50 % Gauss) |
Гаусс (M1) длина отсечки 0.025; 0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8 |
ISO 13565-1 2x Gauss (M2) |
Rk-параметр, длина отсечки 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
ISO 3274/11562 |
длина короткой отсечки шага волны λs; зависит от шагов λc / λs 30; 100; 300 |
ISO 3274/11562 |
фильтр формы λf |
Скорость трассирования vt |
lt — назначенный 0.05; 0.15; 0.5 мм/сек; изменяемый 0.01 — 2.0 мм/сек с шагом 0.01 |
Длина трассирования lt |
0.48; 1.5; 4.8; 15; 48 мм или выбирается в пределах 0.1 — 120 мм, в зависимости от механизма подачи |
Длина оценки ln |
0.40; 1.25; 4.0; 12.5; 40 мм или в зависимости от длины отсечки шага |
Отсечка шага λ [мм] |
0.08; 0.25; 0.8; 2.5; 8.0 |
Параметры шероховатости: ISO 4287 |
Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rdc; Rv; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api |
Основные параметры шероховатости: ISO 13565 |
Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk |
Параметры профиля: ISO 4287 |
Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr% |
Параметры волнистости: ISO 4287 |
Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku |
Параметры Motif: ISO 12085 |
R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF) |
Параметры шероховатости: JIS |
B — 0601 Rz-JIS; Rmax-JIS |
Статистика |
(n, x, S, R, max, min) для каждого из 1 — 999 измерений |
Вывод данных на монитор и принтер |
Значения характеристики поверхности; статистика; положение профиля; P-, R-, W-, K-профили; кривая материала; условия измерений; допуска |
Периферийные соединения |
Механизмы подачи: waveline 20; 60; 120; LV16; |
Питание |
100 В — 240 В, 50-60 Гц, 160 ВА |
Рабочая температура |
+10°C … + 45°C, макс. относ. влажность 85%; ΔT 2°C/ч |
Температура хранения |
-20°C … + 50°C |
Профилометр Hommel-Etamic W55 JENOPTIK |
|
Моторизованная колонна wavelift 400 |
|
Гранитная плита 680×500 mm |
класс точности 2 по DIN 876 |
Привод waveline 60 |
|
Набор щупов TKU300/600 |
|
Геометрический эталон RNDH 2 с сертификатом калибровки |
(Ra ок. 1 мкм; Rz ок. 3,3 мкм с сертификатом калибровки) |
Инструкция по эксплуатации |
Pribor |